DIM-225影像數碼測量儀

DIM-225系列雙目數碼測量儀采用創新理念，結合軟件技術和電路技術，直接把液晶顯示和測量儀科學的結合為一體， 具備了傳統光學顯微鏡的景深大、視度高，立體感強、視野廣， 視覺圖象更清晰、真實的特點；同時還具備了數碼電子對圖象進行拍攝、存儲、打印，讓交流更方便的特點； 真實體現了傳統光學和數字化的完美結合。

主要用途如下：

1、直角座標中測定長度，例如已基面距離，刻線寬度，鍵盤槽寬度，狹縫寬度等等。

2、轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板，量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

3、用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

適用行業：

精密電子、電子元件,精密五金配件,高等院校、科研院所等領域具有一定的運用空間。普及型的價格定位，高速、精確、便捷

測量工作臺主要規格：

X－Y軸移動測量范圍25mmX25mm 50mmX50mm

X-Y坐標數顯分辨率：0.001mm

測量臺刻度盤分度范圍: 0℃-360℃

支持大容量SD/MMC存儲卡；

回放圖片，4X放大；

Av視頻輸出，同步顯示；

多功能LED照明系統；

測量臺最大載重：8.0Kg

物鏡變倍范圍：0.65X~4.5X

顯微鏡總放大倍數：16X~120X

測量精度: ±5uM

測量工作臺直徑: 120毫米